TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器
TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器采用模塊化結(jié)構(gòu)的創(chuàng)新設(shè)計(jì)既可以滿足基本測試的需求，也能通過擴(kuò)展功能來滿足要求更高級的檢測實(shí)驗(yàn)室的測試需要。TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器完全滿足CE 標(biāo)識和ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)測試要求而設(shè)計(jì)。一臺標(biāo)準(zhǔn)的NSG 3060包括對綜合波、振鈴波和EFT電快速瞬變脈沖群以及PQT電壓跌落的測試。其多樣性的擴(kuò)展能力使得它能夠靈活配置來適應(yīng)更廣闊的應(yīng)用場合。
利用TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器獨(dú)有的“主－從”結(jié)構(gòu)概念，新的脈沖發(fā)生器模塊可簡便快速地增加到原來的系統(tǒng)中。這種技術(shù)允許利用存儲在從控制器上的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)和校正因子對單個脈沖模塊分別進(jìn)行校準(zhǔn)。新模塊的安裝非常簡便，無需返回整個系統(tǒng)對其進(jìn)行校準(zhǔn)。
采用先進(jìn)技術(shù)的組件，TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器在開關(guān)切換技術(shù)和相位精度方面建立了新的標(biāo)準(zhǔn)，并且超越了現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的要求。采用功能強(qiáng)大的處理器使得NSG 3060系統(tǒng)能夠完全滿足ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的獨(dú)特的耦合要求。ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)要求脈沖幅值要隨著交流電源脈沖相位、電壓的幅值的變化而變化。
超高對比度的7”彩色觸摸屏是TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器系列里邊最引人注目的特點(diǎn)。依據(jù)要求，可利用集成在TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器上的鍵盤或帶有按鍵的滾輪進(jìn)行靈敏度調(diào)節(jié)。友好的圖形顯示界面使得測試速度加快。每個參數(shù)值清晰可見，所有的設(shè)置可以通過大尺寸的觸摸式輸入按鈕進(jìn)行快速選擇和修改。不需要用筆，就可以快速簡單的編寫程序。可輕易創(chuàng)建一個多步測試程序并且可方便地更改該多步測試程序的測試步驟或參數(shù)。
選擇“專家模式”允許用戶在測試過程中，利用滾輪手動地更改參數(shù)，這是一種激活關(guān)鍵閾值的快速有效的方法。利用集成在TESEQ NSG 3060瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度模擬器的TA(測試程序)功能，只要少數(shù)幾個“點(diǎn)擊”便可觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)化測試，從而可快速可靠地獲得測試結(jié)果。利用簡單易用的SD記憶卡讀卡器，固件可快速下載，用戶指定的測試將會完整的保存下來。一般情況下，存儲空間是足夠大的。在存儲空間不夠用的情況下，可用商用SD記憶卡替換，現(xiàn)存測試文件可很方便地拷貝到容量更大的SD記憶卡。
